Testarea circuitelor integrate folosind ca metoda de compresie analiza de semnatura

                                   Cuprins
I. PARTEA I - NOTIUNI TEORETICE
II. INTRODUCERE
      II.1 DEFECTE, ERORI
      II.2 CAUZELE DEFECTELOR
      II.3 TIPURI DE DEFECTE
      II.4 MODELE DE DEFECTE FUNCTIONALE
III. SIMULAREA DEFECTELOR
      III.1 TEHNICI GENERALE DE SIMULARE A DEFECTELOR
      III.2 SIMULAREA SSF IN CLC
IV. METODE DE GENERARE A VECTORILOR DE TEST
      IV.1 METODA DIFERENTEI BOOLEENE
      IV.2 METODA ACTIVARII UNEI CAI
      IV.3 METODA CAII CRITICE
      IV.4 GENERAREA TESTELOR ALEATOARE
      IV.5 GENERAREA SECVENTELOR DE TEST PSEUDOALEATOARE FOLOSIND REGISTRI
DE DEPLASARE LINIARI CU REACTIE
V. METODE SI TEHNICI DE COMPRESIE A DATELOR
      V.1 METODA DE COMPRESIE BAZATA PE NUMARAREA VALORILOR BINARE
      V.2 METODA DE COMPRESIE BAZATA PE NUMARAREA TRANZITIILOR
      V.3 METODA DE COMPRESIE BAZATA PE TESTAREA SINDROMULUI
VI. PARTEA A II-A ANALIZA PRACTICA
      VI.1 METODA DE COMPRESIE PRIN ANALIZA DE SEMNATURA
      VI.2 APLICATII PRACTICE A TEHNICII DE COMPRESIE PRIN ANALIZA
SEMNATURII
VII. ANEXE
Bibliografie
Pagini 107